WWW.REFERATCENTRAL.ORG.UA - Я ТУТ НАВЧАЮСЬ

... відкритий, безкоштовний архів рефератів, курсових, дипломних робіт

ГоловнаІнформатика, Компютерні науки → Вимоги до якості програмного забезпечення програмно-технічних комплек-сів критичного призначення - Дипломна робота

Вимоги до якості програмного забезпечення програмно-технічних комплек-сів критичного призначення - Дипломна робота

0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Вимоги специфікацій.
Звіт експертизи або верифікації
Таблиця А.1.4 Метрики захищеності
Номер
пункту Назва метрики Призначення метрики Формула та метод обчислення Інтерпретація Джерело вхідних даних для вимірів
А.1.4.1 Реєстрованість доступу (Access audit ability) Чи реалізовано і в якому об'ємі аудит доступу до системи та даних Визначаються експертним методом або за формулою: Х=А/В,
де А- кількість зафіксованих у базі
даних випадків доступу до
системи або даних;
В- кількість фактичних випадків
доступу до системи або даних 0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Вимоги специфікацій.
Звіт про тесту-вання (експертизи або верифікації)
Кінець таблиці А.1.4
Номер
пункту Назва метрики Призначення метрики Формула та метод обчислення Інтерпретація Джерело вхідних даних для вимірів
А.1.4.2 Контрольованість доступу
(Access controllability) Чи контролюється та наскільки успішно доступ до системи і даних Визначаються експертним методом або за формулою: Х=А/В,
де А-кількість виявлених і
відвернених спроб несан-
кціонованого доступу до
системи або даних;
В-кількість спроб несанкці-
онованого доступу до системи
або даних 0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Вимоги специфікацій.
Звіт про тесту-вання (експертизи або верифікації)
А.1.4.3 Захищеність від викривлення та втрати даних
(Data corruption prevention) Чи реалізовано та наскільки успішно захист даних від викривлення та втрат Визначаються експертним методом або за формулою: Х=А/В,
де А-кількість випадків виявлення та успішного відновлення викривлених або загублених даних;
В-кількість випадків викрив- лення або втрати даних;
Вимоги специфікацій 0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Звіт про тесту-вання (експертизи або верифікації)
А.1.4.4 Захищеність від перехоплення даних
(Data encryption) Чи реалізовано та наскільки успішно захист даних від перехоплення та розшифровки Визначаються експертним методом або за формулою: Х=1-А/В,
де А-кількість успішних спроб
перехоплення та розшифровки
даних;
В-кількість виконаних спроб
перехоплення та розшифровки
даним 0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Вимоги специфікацій.
Звіт про тесту-вання (експертиза або верифікація)
Таблиця А.1.5 - Метрики узгодженості функціональності
Номер пункту Назва метрики Призначення метрики Формула та метод обчислення Інтерпретація Джерело вхідних даних для вимірів
А.1.5.1 Узгодженість функціональ-ності
(Functional compliance) Наскільки відповідає ПЗ вимогам стандартів та інших нормативних документів, що стосу-ються функціональності Визначають експертним методом
0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Вимоги специфікацій.
Звіт експертизи та верифікації
А.1.5.2 Узгодженість інтерфейсів (Interface standard compliance) Наскільки відповідають зовнішні інтерфейси ПЗ вимогам стандартів та інших нормативних документів Визначають експертним методом 0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Вимоги специфікацій.
Звіт експертизи та верифікації
А.2 Метрики надійності
Таблиця А.2.1 - Метрики зрозумілості
Номер пункту Назва метрики Призначення метрики Формула та метод обчислення Інтерпретація Джерело вхідних даних для вимірів
А.2.1.1 Щільність дефектів
(Fault density) Як багато дефектів було виявлено в ПЗ X=NAFU/SIZE,
де NAFU-загальна кількість
виявлених у ПЗ дефектів;
SIZE- об'єм ПЗ в Кб або Мб 0<=X
Чим ближче до "0", тим краще Звіти про тесту-вання, експертизу та верифікацію
Продовження таблиці А.2.1
Номер пункту Назва метрики Призначення метрики Формула та метод обчислення Інтерпретація Джерело вхідних даних для вимірів
А.2.1.2 Щільність прихованих дефектів
(Estimated latent fault density) Якбагато дефектів залишилося ще не виявленими в ПЗ, які можуть виявитися надалі X=|NPFU-NAFU|/SIZE,
де NPFU-кількість передвіщених (за
допомогою математичних мо-
делей) дефектів у ПЗ;
NAFU-загальна кількість
виявлених у ПЗ дефектів;
SIZE- об'єм ПЗ в Кб або Мб 0<=X
Чим ближче до "0", тим краще Звіти про тесту-вання, експертизу та верифікацію
А.2.1.3 Виявлення причин відмов
(Failure Resolution) Яка імовірність виявлення причини відмови (дефекту, що призвів до відмови) X=NAFU/NAFI,
де NAFU-кількість відмов ПЗ, для
яких установлена причина
виникнення;
NAFI-загальна кількість зафік-
сованих відмов ПЗ 0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Звіти про тесту-вання, експертизу та верифікацію
А.2.1.4 Виправлення дефектів
(Fault Removal) Яка імовірність виправ-лення дефектів X=NRFU/NAFU,
де NRFU-кількість виправлених
дефектів у ПЗ;
NAFU-загальна кількість
виявлених у ПЗ дефектів 0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Звіти про тесту-вання, експертизу та верифікацію
Кінець таблиці А.2.1
Номер пункту Назва метрики Призначення метрики Формула та метод обчислення Інтерпретація Джерело вхідних даних для вимірів
А.2.1.5 Середнє напрацювання на відмову
(Mean time bet-ween failures) Як часто виникають відмови ПЗ MTBF=TSIB/NAFI,
де TSIB-сума інтервалів часу між
зафіксованими відмовами;
NAFI-загальна кількість
зафіксованих відмов ПЗ 0<=X
Чим більше, тим краще Звіти тестування, експертизи та верифікації
А.2.1.6 Передвіщений час до наступної від-мови
(Mean time to the next failure) Як довго очікується робота ПЗ без відмов MTTF визначають за допомогою імовірнісних моделей надійності на основі аналізу статистичних даних тестування 0<=X
Чим більше, тим краще Звіти тестування, експертизи та верифікації
А.2.1.7 Тестове покриття
(Test coverage) В якому об'ємі виконано тестування ПЗ Х=А/В,
де А-кількість виконаних тестових
наборів (сценаріїв);
В-кількість тестових наборів
(сценаріїв), необхідних для
покриття всіх функцій і
перевірки вимог ПЗ 0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Звіти тестування, експертизи та верифікації
Таблиця А.2.2 - Метрики стійкості до відхилень
Номер пункту Назва метрики Призначення метрики Формула та метод обчислення Інтерпретація Джерело вхідних даних для вимірів
А.2.2.1 Стійкість до внутрішніх дефектів Наскільки ПЗ є стійким до прояву внутрішніх дефектів Х=А/В,
де А-кількість зафіксованих проявів
внутрішніх дефектів ПЗ;
В-кількість зафіксованих
випадків прояву внутрішніх
дефектів ПЗ 0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Звіти тестування, експертизи та верифікації. Звіт з експлуатації
А.2.2.2 Стійкість до помилок у вхідних даних Наскільки ПЗ є стійким до помилок у вхідних даних Визначають експертним методом або за формулою: Х=1-А/В,
де А-кількість випадків відмови ПЗ
через помилки у вхідних даних;
В-кількість зафіксованих випад-
ків помилкових вхідних даних 0<=X<=1
Чим ближче до "1", тим краще Звіти тестування, експертизи та верифікації. Звіт з експлуатації
А.2.2.3 Стійкість до помилок користувачів Наскільки ПЗ є стійким до помилок користувачів Визначають експертним методом або за
Loading...

 
 

Цікаве