WWW.REFERATCENTRAL.ORG.UA - Я ТУТ НАВЧАЮСЬ

... відкритий, безкоштовний архів рефератів, курсових, дипломних робіт

ГоловнаТехнічні науки → Методи підвищення точності вимірювань - Реферат

Методи підвищення точності вимірювань - Реферат


Реферат на тему:
Методи підвищення точності вимірювань
План
1. Аналіз похибок засобів вимірювання
2. Метод стабілізації параметрів статичних характеристик
3. Метод структурної надмірності
4. Метод зменшення випадкової складової похибки
5. Метод зменшення систематичної складової похибки
6. Метод зменшення випадкової і систематичної складових похибок
7. Структурні методи зменшення мультиплікативних і адитивних похибок
1. Аналіз похибок засобів вимірювання
У виробничих умовах первинні вимірювальні перетворювачі (датчики), системи дистанційних передач, вимірювальні прилади, регулятори та інші засоби експлуатуються у складних умовах, які змінюються в часі. Це обумовлено тим, що контрольований виробничий процес, як і сам технологічний процес, змінюється у широких межах. Зміна технологічних параметрів і умов зовнішнього середовища (температури, тиску, вологості, вібрації) значно впливають на точномірні характеристики засобів вимірювальної техніки, на їхні статичні та динамічні характеристики. Кожний із впливових чинників, зазвичай, може бути виміряний окремо і врахований при одержанні результатів вимірювань, проте у виробничих умовах експлуатації всі їх врахувати майже неможливо. Тому кожний засіб вимірювання поряд з нормованою чутливістю до вимірюваної величини певним чином реагує на різні чинники, які обумовлюють підвищення похибки засобів вимірювання.
В умовах експлуатації статичні похибки засобів вимірювальної техніки визначаються за відхиленням реальних статичних характеристик у(х) від номінальних (або ідеалізованих) функцій перетворення у0(х), які одержані у нормальних умовах їх роботи, тому забезпечення високої точності вимірювань пов'язано з мінімізацією цього відхилення: ?у = у(х)-у0(х). Розглянемо у загальному вигляді вплив основних чинників на похибку вимірювань Ау.
У рівняння будь-якого засобу вимірювальної техніки (ЗВТ), крім вимірюваної величини, входить ряд конструктивних параметрів ЗВТ, які змінюють свої характеристики як у процесі експлуатації, так і при зміні зовнішнього середовища. Тому у загальному вигляді рівняння вихідної величини ЗВТ можна записати так:
у = F(x; l1; 12;...?1; ?2;... U; f ... t; р; М), (1)
де l1 12 - конструктивні розміри деталей;
?1 ?2 - фізичні характеристики матеріалів засобу вимірювань;
U, f - напруга і частота джерела електричної енергії;
t, p, M - температура, тиск, вологість зовнішнього середовища.
Значення l, р, U, f, t, p, M можуть відрізнятись від номінальних значень залежно від технологічних чинників, коливань напруги чи частоти у мережі, зміни зовнішніх умов в процесі експлуатації тощо. Виходячи із функціональної залежності (1) можна розрахувати похибки засобів вимірювання при зміні кожного параметра означеного рівняння.
Визначимо зміну показань засобу вимірювання, яка викликана зміною лише одного якогось параметра, наприклад l1 а всі решта залишаються постійними. Значення параметрів змінюються зазвичай досить обмежено, тому приріст функції можна розглядати як такий, що дорівнює її диференціалу:
(2)
Відхилення ?l параметра деталі засобу вимірювання від номінального значення називається первинною абсолютною похибкою, вираз ?l1dy/dl1 - частковою похибкою.
Аналогічно можна розрахувати похибки засобу вимірювання при зміні решти параметрів. Загальна похибка засобу вимірювання визначається сумою похибок від зміни всіх параметрів:
(3)
Якщо ж відомі статичні характеристики окремих ланок засобу вимірювань, то доцільніше спочатку розрахувати похибки для окремих ланок, а потім на їхній основі розрахувати загальну похибку засобу вимірювання.
У загальному вигляді статична характеристика довільної ланки має вигляд
у = f(x1; l1; 12;...?1; ?2;... U; f ... p; t; М), (4)
Похибка довільної ланки ?yi буде частковою похибкою вимірювального засобу ?yi=dy/dyi. Для знаходження часткової похідної ду/дуі складається рівняння скороченого вимірювального кола у = f(yi), з якого і визначається часткова похідна ду/д(уп).
На основі аналізу рівнянь (1), (4) можна визначити два методи зменшення похибок результатів вимірювань: метод стабілізації параметрів статичних характеристик та метод структурної надмірності.
2. Метод стабілізації параметрів статичних характеристик
Перший метод зводиться до підвищення стабільності параметрів статичних характеристик засобів вимірювання або ж до зведення до мінімуму часткових похибок ?yli; ?у?i, ?yU; ?yf тощо. Ці методи підвищення точності результатів вимірювань називаються конструктивними, або технологічними.
Стабілізація статичних характеристик на основі конструктивних методів полягає у виготовленні засобів вимірювань та їх елементів із сучасних високотехнологічних матеріалів, характеристики яких майже не залежать від зміни параметрів зовнішнього середовища, а також у термостату-ванні як вимірюваного середовища, так і засобів вимірювань та стабілізації джерел живлення, у використанні сучасних технологій та методів вимірювань тощо. Відмінною рисою конструктивних методів є включення в засоби вимірювань тільки тих елементів і вимірювальних перетворювачів, без яких процес вимірювання взагалі неможливий.
Конструктивні методи підвищення точності широко використовувалися у приладобудівній промисловості. їх ще називають класичними методами. Проте класичні методи майже вичерпали свої можливості, бо серед сучасних засобів вимірювань широкого використання набули мікропроцесорні обчислювальні системи, за допомогою яких опрацьовується інформація, вводяться термокомпенсації, здійснюється лінеаризація характеристик та ін.
3. Метод структурної надмірності
Другий метод підвищення точності результатів вимірювань полягає у введенні в процес вимірювань структурної або ж тимчасової надмірності. Це дає можливість одержати додаткову інформацію про вимірювану величину та про перешкоди, що виникають у процесі вимірювань. Опрацювання таких даних вимірювань за спеціальними алгоритмами дозволяє підвищити точність вимірювань. Ці способи одержали назву структурних методів підвищення точності вимірювань.
Відмінною особливістю структурних методів є забезпечення високоточних результатів вимірювань на звичайних засобах вимірювань, без зміни вимог щодо поліпшення їхніх метрологічних показників. Необхідна точність вимірювань досягається за рахунок опрацювання додаткової інформації за спеціальними алгоритмами. При сучасному стані обчислювальної техніки виконання допоміжних перетворень і обчислювальних операцій у багатьох випадках ефективніше й економічніше, ніж удосконалення конструкції і технології виробництва засобів вимірювання з метою одержання точніших метрологічних характеристик.
Структурні методи підвищення точності засобів вимірювання досить багатогранні, тому зупинимося на тих, які набули найбільшого поширення у вимірювальній техніці.
4. Метод зменшення випадкової складової похибки
Метод зменшення випадкової складової похибки засобів вимірюваньґрунтується на математичному опрацюванні результатів багаточисельних та багатоканальних вимірювань величин х.
Якщо ж виконано п незалежних вимірювань величини х, то результати вимірювань опрацьовуються за алгоритмами
(5)
(6)
Результат багаторазових вимірювань тх матиме в раз меншу середньоквадратичну похибку ? порівняно з результатом одноразового вимірювання.
Таким чином, збільшенням числа вимірювань п можна зменшити випадкову складову похибки вимірювального засобу, хоч у реальних виробничих умовах кількість вимірювань обмежена. Це обмеження обумовлене змінами вимірюваної величини в часі (динамікою об'єкта), систематичної складової похибки за час багаторазових вимірювань та характеристик (властивостей) самого об'єкта.
Другий спосіб зменшення складової випадкової похибки ґрунтується
Loading...

 
 

Цікаве